- аналогово и дигитално представяне на първичната структурна информация
- основни параметри, които се регистрират и тяхната връзка с отделни структурни елементи
- превръщане на първичната спектрална или дифракционна информация в структурни данни
- анализ на структурата на конкретни материали, притежаващи различен тип структура.
- Целта на курса е да се дадат необходимите познания на студентите за конкретното приложение на основните структурни методи за анализ на структурата на материалите по отношение на техния молекулен, атомен, йонен и електронен строеж. Темите свързани с приложението на различни спектрални методи в т. ч. ИЧ-спектроскопия, ултравиолетова и видима спектроскопия, ЕПР спектроскопия, ЯМР спектроскопия, Мьосбауерова спектроскопия, фотоелектронна спектроскопия, Оже спектроскопия, мас-спектрометрия на вторични йони и др. както и на различни дифракционни методи в т.ч. рентгеноструктурен анализ, електронография и неутронография са конкретизирани към рфешаването на няколко основни структурни задачи:
- В тази последователност са разгледани всички методи и са анализирани възможностите за определяне на основните елементи на структурата: близък порядък, среден порядък, свръхструктури, текстура, локални микрохетерогенни образования, повърхностна структура, структура на тънки слоеве и др.